GIGABYTE GP-P750/850 GM : un expert de Cybenetics répond à GIGABYTE

    Il y a quelques jours seulement, on parlait du problème des alimentations GIGABYTE GP-P750GM et GP-P850GM qui explosent via un communiqué officiel de la part de GIGABYTE concernant la situation. Et bien l’ingénieur en chef du programme de certification Cybenetics, le Dr Aris Mpitziopoulos répond point par point au communiqué de GIGABYTE, et ce n’est pas très joli à voir.

    GIGABYTE GP-P750/850 GM : une conception matérielle défectueuse ?

    Dans son communiqué, GIGABYTE a annoncé modifier les valeurs OPP de ses alimentations et propose un retour des modèles non révisés. Ainsi, ce problème ne devait plus pouvoir se reproduire. Le Dr Aris Mpitziopoulos, un expert renommé des alimentations qui travaille en collaboration avec le site TechPowerUp n’est pas tout à fait du même avis.

    Test GIGABYTE GP-P750/850 GM
    GIGABYTE GP-P750/850 GM

    Selon son analyse, il ne s’agit pas seulement d’un problème de mécanisme de sécurité de protection contre les suralimentations (OPP) mal programmé, mais bien d’une conception matérielle défectueuse dans l’ensemble. L’expert a décidé de répondre à la déclaration de GIGABYTE publiée le 13 août 2021.

    GIGABYTE : prend les rapports de cette manière très au sérieux et souhaite donc traiter les problèmes potentiels signalés comme suit…

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : j’ai signalé les problèmes auxquels j’ai été confronté avec l’alimentation GP-P750GM fin octobre 2020, avant de publier MA critique sur TechPowerUp et la critique vidéo sur le canal Hardware Busters YT, et GIGABYTE a répondu que ses ingénieurs avaient testé cinq unités et n’avaient trouvé aucun problème. Ils n’ont pas demandé de récupérer mon mauvais échantillon pour l’analyse des défaillances, ce qui est la procédure typique, et ils n’ont pas proposé un deuxième échantillon pour poursuivre l’examen. J’ai conservé toute ma correspondance avec l’équipe respective de GIGABYTE, en cas de doute.

    GIGABYTE : la fonction de sécurité OPP est conçue pour arrêter l’unité lorsque la charge électrique dépasse la puissance dans laquelle l’unité a été conçue pour fonctionner. L’OPP a été réglé sur 120 % à 150 %, 1020 W~1300 W pour le GP-P850GM et 900 W~1125 W pour le GP-P750GM.

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : OPP SERT A protéger le bloc d’alimentation contre les pannes. Cela dit, les ingénieurs de GIGABYTE auraient dû le configurer en conséquence. Certaines plates-formes avec des composants de premier ordre et toléranCES aux PANNES peuvent avoir des paramètres OPP plus élevés que d’autres plates-formes bas de gamme. Il appartient au fabricant de configurer correctement l’OPP pour protéger efficacement l’alimentation dans toutes les conditions et le système que le bloc d’alimentation alimente. Enfin, OPP avec une fourchette de 30% est trop élevé. GIGABYTE devrait demander une plage inférieure.

    GIGABYTE : des tiers nous ont fait part de préoccupations concernant les problèmes potentiels de déclenchement des GP-P850GM et GP-P750GM à haute puissance lors de tests via un équipement de charge électronique CC pendant des périodes prolongées proches du point de déclenchement OPP de 120 % à 150 %. Ce niveau de test prolongé pourrait réduire considérablement la durée de vie du produit et des composants du GP-P850GM et du GP-P750GM.

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : tout d’abord, il n’y a pas eu de période de test prolongée sous surcharge puisque la plupart des échantillons sont morts quelques minutes après le test, comme le mentionne Steve (Gamer Nexus) dans sa vidéo. Dans mon cas, l’échantillon GP-P750 GM que j’ai testé s’est arrêté pendant une courte période d’évaluation OPP et a explosé une fois que j’ai essayé de le redémarrer pour continuer les tests, sans charge sur ses rails. Même si des tests prolongés à des charges élevées étaient le cas, les ingénieurs devraient utiliser des points de déclenchement OPP inférieurs à partir du moment où ils sont bien conscients que la plate-forme peut supporter des charges supérieures à la normale. Enfin, la réduction de la durée de vie est une toute autre histoire que l’explosion de pièces, ce qui montre clairement un problème avec le paramètre OPP, que GIGABYTE pense être le coupable.

    GIGABYTE : GIGABYTE a fait des ajustements et abaissé l’OPP sur GP-P850GM et GP-P750GM…. de 120 % ~ 150 % à 110 % ~ 120 %

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : GIGABYTE a remarqué, après nos constatations, que les plates-formes ne peuvent pas supporter une note OPP de 120 % à 150 % et a décidé de la baisser. Le problème est que 110%-120% OPP est impossible avec les contrôleurs analogiques, qui utilisent des résistances pour ajuster OPP. Ces résistances dérivent avec la température. En d’autres termes, leur résistance change en fonction des conditions de fonctionnement, il est donc impossible d’atteindre une plage d’OPP aussi petite à la fois dans des conditions froides et chaudes. Le seul moyen d’obtenir un OPP bien défini est de passer par des circuits numériques, un MCU. Enfin, GIGABYTE ne mentionne pas les conditions de fonctionnement dans lesquelles les nouveaux paramètres OPP s’appliquent.

    GIGABYTE : GIGABYTE souhaite souligner les problèmes potentiels qui ont été signalés, ne semblaient se produire qu’après de très longues périodes de test de charge extrême via un équipement de charge électronique DC et ne seraient pas typiques d’une utilisation dans le monde réel.

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : les échantillons de Gamer Nexus sont morts en quelques minutes, et mon échantillon est mort après une courte période d’évaluation de l’OPP. De plus, un rapide coup d’œil aux rapports des utilisateurs (Newegg, forums, etc.) montre que la plupart de ces PSU sont morts dans des conditions normales. Avec autant d’échecs signalés dans les critiques de Newegg, cela ne peut pas être simplement une coïncidence.

    GIGABYTE : les blocs d’alimentation GIGABYTE GP-P850GM et GP-P750GM incluent des conceptions de protection d’alimentation standard de l’industrie OCP, OTP, OVP, OPP, UVP et SCP.
    Certification de sécurité de divers pays pour assurer un fonctionnement sûr et stable de votre système.

    Réponsed’Aris Mpitziopoulos : à partir du moment où ces unités ont une certification CE, j’aimerais vérifier les rapports CE correspondants, y compris l’évaluation des fonctions de protection. À ma connaissance, aucune certification de sécurité n’évalue les fonctions de protection du bloc d’alimentation.

    GIGABYTE : malgré le fait que les versions d’ajustement d’OPP avant et après sont fiables pour une utilisation dans des conditions réel.

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : de nombreux utilisateurs qui ont acheté ces produits ont une opinion et une expérience différentes. De plus, OPP n’est pas là uniquement pour nous, les réviseurs, mais il devrait protéger le bloc d’alimentation dans toutes les conditions. Sinon, il ne sert à rien d’avoir cette fonction de protection lorsqu’elle ne sauvegarde pas le bloc d’alimentation. Et aussi, qui et qu’est-ce qui définit l’utilisation  ? Pour moi, l’utilisation typique peut être d’avoir mon PC inactif la plupart du temps tandis que d’autres utilisateurs jouent à des jeux la plupart du temps, mettant l’accent sur l’ensemble du système. Les autres utilisateurs peuvent exécuter des tests avec Furmark et Prime95 en même temps. Ce que je veux dire, c’est que l’utilisation dans des conditions varie d’un utilisateur à l’autre.

    GIGABYTE : le numéro de série ci-dessous peut s’appliquer au service de retour et d’échange.

    Réponse d’Aris Mpitziopoulos : GIGABYTE avait apporté des modifications OPP à certains lots de production mais n’en a pas informé les personnes qui ont acheté des unités avec un OPP élevé, ni même leur a donné la possibilité de remplacer leurs unités, juste par mesure de sécurité. Ils ont appliqué un correctif silencieux, ce qui signifie qu’ils étaient suffisamment troublés pour le faire.

    Aris Mpitziopoulos insiste bien sur le fait qu’il ne s’agit pas seulement d’un problème d’OPP puisque de nombreux utilisateurs ont eu des alimentations qui sont mortes sous des charges modérées et sur de courtes périodes. Selon l’expert, le problème viendrait plutôt d’une mauvaise conception avec des FET qui ne sont pas pilotés correctement et avec une synchronisation incorrecte. Cependant, l’expert admet qu’il ne peut pas en être sûr, car il n’a pas eu d’échantillons révisés pour réaliser de nouveaux tests.


     

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